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測量結果可與CATIA、GeomagicStudio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據電腦配置要求：支elI5及以上處理器，8G及以上內存，NVIDIA1G及以上顯卡，40G以上硬盤功能特性：采用藍光窄波段濾波技術，有效降低外界環境光干...

德國LEICA徠卡晶圓和FPD檢查顯微鏡LEICADM8000MLEICADM12000M是經典的INM100,INM200,INM300顯微鏡的較早換代產品產品特性●●徠卡的立體斜照明，可以快速檢查晶圓表面的微小裂紋●所有物鏡均帶電子CODE,可被軟件自動識...

孔隙率測試儀徠卡全自動孔隙率檢測儀孔隙率測試儀在國外普遍采用，徠卡全自動孔隙率檢測儀孔隙率測試儀，性能達到國外同類水平，深受國內用戶歡迎。品牌：徠卡型號：DM4M孔隙率測定儀、微孔測試儀及孔隙分布分析儀儀器簡介：孔隙率測定儀徠卡DM4M(微孔測試儀及孔隙分布分...

茂鑫供應孔隙率測試儀徠卡全自動孔隙率檢測儀孔隙率測試儀在國外普遍采用，徠卡全自動孔隙率檢測儀孔隙率測試儀，性能達到國外同類水平，深受國內用戶歡迎。品牌：徠卡型號：DM4M孔隙率測定儀、微孔測試儀及孔隙分布分析儀儀器簡介：孔隙率測定儀徠卡DM4M(微孔測試儀及孔...

便攜式3D掃描儀：GO!SCAN 20 / Go!SCAN 50便攜式3D掃描儀：GO!SCAN 3D Go!SCAN 3D? 產品系列帶來了簡便的便攜式 3D 掃描體驗，從而提供快速而可靠的測量。 使用這些手持式 3D 掃描儀時，甚至可以采集 全彩 3D 數...

影像測量儀的特點：影像測量儀，通過捕捉工件表面影像的邊緣，進行圖像處理，獲得影像幾何要素的數據。影像特征點在測頭坐標系中的坐標（x，y）與探頭參考點在坐標測量機基礎坐標系中的坐標（x"，y"）合成，構成被測點坐標（X，Y）。作為光學成像探頭，成像光路質量、成像...

全自動影像測量儀是影像測量技術的高級階段，具有高度智能化與自動化特點。其優異的軟硬件性能讓坐標尺寸測量變得便捷而愜意，擁有基于機器視覺與過程控制的自動學習功能，依托數字化儀器高速而精確的微米級走位，可將測量過程的路徑，對焦、選點、功能切換、人工修正、燈光匹配等...

全自動影像測量儀的產品優點注意哪些維護保養？全自動影像測量儀它可解決印刷電路板（PCB）的外觀尺寸測量問題，同時具有2D精密測量。它還具有高速與精細的特性，可在單一機臺上執行多種功能，減少重復購置機臺的話費與使用空空間的浪費。SOV系列它為泛用型3D精密測量及...

計量級測量:精度高達()、分辨率高達()、重復精度高、具有可追蹤認證體積精度:高達()集成攝影測量:用以很大程度地提高體積精度的自動化流程動態參考:通過光學反射靶創建一個“鎖定”到零部件本身的參考系。用戶因而可以在測量過程中隨意移動對象，消除振動對...

角度測量技巧一：直線采集盡量長。影像測量儀，由于屏幕顯示有限，加上放大倍率較大（一般在～28X～180X)，屏幕顯示部分的工件尺寸實際只有幾毫米，很多測量人員在檢測的時候習慣只在屏幕顯示部分上采集點、線元素。如果采集的點有偏差，所采線段越短，那么所測得的角度值...

孔隙率測量儀（靜態容量法）自主研發的全自動智能化比表面積和孔徑檢測儀器,采用靜態容量法測試原理,眾多科研院所及500強企業應用案例,相比國內同類產品,多項技術的采用使產品整體性能更加完善,測試結果的準確性和一致性進一步提高,測試過程的穩定性更強,達到國際同類產...

產品特點ductFeatures三維掃描儀HL-3DW具有：·大模式掃描：采用大模式掃描配置，使汽車類產品的三維掃描快捷方便·便攜式設計：硬件系統體型小，占地少，無噪音，易拆易裝，方便帶至測量現場·掃描速度極快：≤3-5秒內可得到幾百萬數據點，效率極高(也可以...

采購之前先了解什么類型的顯微鏡適合您要檢測的樣品？顯微鏡根據觀察樣品的不同可以按功能來劃分：一般有金相顯微鏡、偏光顯微鏡、體視顯微鏡、生物顯微鏡、熒光顯微鏡等。而不同的功能顯微鏡用法也不同，像偏光顯微鏡主要應用于像地質礦石等各種異性非金屬材料檢測的研究。金相顯...

影像測量儀是建立在CCD數位影像的基礎上，依托于計算機屏幕測量技術和空間幾何運算的強大軟件能力而產生的。計算機在安裝上控制與圖形測量軟件后，變成了具有軟件靈魂的測量大腦，是整個設備的主體。它能快速讀取光學尺的位移數值，通過建立在空間幾何基礎上的軟件模塊運算，瞬...

影像測量儀是一種由高解析度CCD彩色鏡頭、連續變倍物鏡、彩色顯示器、視頻十字線顯示器、精密光柵尺、多功能數據處理器、數據測量軟件與高精密工作臺結構組成的高精度光學影像測量儀器。采用彩色CCD攝像機;變焦距物鏡與十字線發生器作為測量瞄準系統；由二維平面工作臺、光...

坐標測量機是隨著計算機技術發展起來的現代化幾何量測量設備，其特點是通過機械方法構成三維實體坐標系，以探頭探測被測樣品表面點，獲得點的坐標值。以被測樣品表面點集的坐標計算樣品在空間的位置和幾何特性。為了適應不同的需要，許多不同原理的坐標測量機探頭得到開發。探頭根...

詳情CloseAXE-B11AXE-B11大型工件三維測量一機解決擁有11束交叉（+1束）藍色激光，掃描速度1,300,000次測量/秒，內置攝影測量系統，專為中大型物體測量打造。詳情CloseClose.式三維掃描儀TrackScan-P22TrackSca...

gt;網絡安全防火墻UTM防毒及郵件過濾入侵檢測VPN及SSLVPN物理安全隔離應用監管網絡存儲RAID卡SCSI卡SCSI及SAS配件磁帶機磁帶庫磁盤陣列網絡存儲IP網絡存儲硬盤抽取盒KVM切換器網絡延長器磁帶機房布線綜合布線電纜與雙絞線光纖設備光纖...

徠卡金相顯微鏡DM8000M為您帶來的優勢有：視野擴大四倍以上極限分辨率視野擴大四倍以上宏觀放大功能使您可以比傳統掃描物鏡多看四倍以上的視野。極限分辨率全新的傾斜紫外模式(OUV)在紫外光基礎上結合了傾斜光設計理念，確保您可以從任何角度都得到可見物理光學的極限...

徠卡偏光顯微鏡是徠卡顯微鏡系列中的一種，偏光顯微鏡是一種在其光學系統中包含偏振器的顯微鏡，它能夠顯示和分析材料的各種光學性質，如折射率、雙折射、吸收、散射等。徠卡品牌通常與高質量、高級別的光學設備相關聯，因此徠卡偏光顯微鏡被認為是一種高精密的設備。DM2700...

徠卡偏光顯微鏡是一種具有特殊光學功能的顯微鏡。它可以通過旋轉偏振片或者樣品，觀察樣品在不同振動方向下的透光性變化，因此偏光顯微鏡是物質結構、形態、性質和組成的重要工具之一。助您獲得高質量結果，您需要一些組件來實現偏光研究目標，以下都是重要的組件：1、無應力光學...

購買正置顯微鏡還是倒置的顯微鏡？金相顯微鏡又叫材料顯微鏡，主要用來觀察金屬組織的結構，可以分為正置金相顯微鏡跟倒置金相顯微。正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了便利，除了對20-30mm高度的金屬試樣作分析鑒定外，由于符合人...

這就是觀察到橫向力和對應形貌圖像中峰谷移動的原因。同時，所觀察到的摩擦力變化是由樣品與LFM針尖間內在橫向力變化引起的，而不一定是原子尺度粘附-滑移過程造成的。對HOPG在微米尺度上進行研究也觀察到摩擦力變化，它們是由于解離過程中結構發生變化引起的。解離的石墨...

對關鍵部位細節的顯示可能更為理想根據手術的具體進程適時調整雙極電凝的輸出功率過高的雙極輸出功率造成更多的雙極粘連、結痂、炭化和鑷子損傷過低的雙極輸出功率會影響手術進度根據手術的具體進程適時調整吸引器的負壓過高的負壓可造成額外的組織損傷過低的負壓不利于清理積血或...

購買正置顯微鏡還是倒置的顯微鏡？在回答這個問題之前，應該清楚正置顯微鏡和倒置顯微鏡到底有什么區別：金相顯微鏡又叫材料顯微鏡，主要用來觀察金屬組織的結構，可以分為正置金相顯微鏡跟倒置金相顯微。正置金相顯微鏡在觀察時成像為正像，這對使用者的觀察與辨別帶來了便利，除...

工業生產上，鋰電池極片一般采用對輥機連續輥壓壓實，工藝過程如圖1所示。圖1極片輥壓過程示意圖極片經過壓實之后，涂層孔隙率由初始值εc,0變為εc。在之前的一篇文章《鋰電池極片輥壓工藝基礎解析》提到：鋰離子電池極片的壓實過程也遵循粉末冶金領域的**公式（1），這...

如果您想要研究晶體結構，徠卡偏光顯微鏡將是您的較好選擇。無論是礦物、塑料和聚合物、藥物藥品或燃料和接合劑，徠卡正置偏光顯微鏡都能幫助您觀察到感興趣的內容，完成您的研究或質量控制任務。徠卡正置偏光顯微鏡采用LED照明，較鹵素照明優勢更加明顯：它比鹵素照明消耗的能...

LFM是檢測表面不同組成變化的SFM技術。它可以識別聚合混合物、復合物和其他混合物的不同組分間轉變，鑒別表面有機或其他污染物以及研究表面修飾層和其他表面層覆蓋程度。它在半導體、高聚物沉積膜、數據貯存器以及對表面污染、化學組成的應用觀察研究是非常重要的。LFM之...

正置孔隙率檢測儀較適用于金屬以外的材料分析。為什么小編會得出這個結論呢？這個結論不是說正置孔隙率檢測儀不能看金屬材料，而是用起來比較麻煩。通常檢測金屬材料的朋友，我們都會給他們推薦倒置孔隙率檢測儀。因為金屬材料都是大件，需要取樣、制樣，如果用正置孔隙率檢測儀的...

徠卡顯微鏡的發展為微觀世界的研究和現代科學技術的發展開辟了廣闊的道路，但是，電子顯微銳決不可能取代光學顯微鏡，具有電子顯微鏡所擁有的一些優點，隨著現代科學技術的發展光學顯微鑰也在不斷地改進和發展，并且已被應用于愈來愈的科學技術領域和生產部門。徠卡顯微鏡是一款高...