這么多的組合是不可能完全通過(guò)人工設(shè)置和調(diào)整  的，必須有一定的機(jī)制能夠根據(jù)實(shí)際鏈路的損耗、串?dāng)_、反射差異以及溫度和環(huán)境變化進(jìn)行  自動(dòng)的參數(shù)設(shè)置和調(diào)整，這就是鏈路均衡的動(dòng)態(tài)協(xié)商。動(dòng)態(tài)的鏈路協(xié)商在PCIe3.0規(guī)范中  就有定義，但早期的芯片并沒(méi)有普遍采用；在PCIe4.0規(guī)范中，這個(gè)要求是強(qiáng)制的，而且很  多測(cè)試項(xiàng)目直接與鏈路協(xié)商功能相關(guān)，如果支持不好則無(wú)法通過(guò)一致性測(cè)試。圖4.7是  PCIe的鏈路狀態(tài)機(jī)，從設(shè)備上電開(kāi)始，需要經(jīng)過(guò)一系列過(guò)程才能進(jìn)入L0的正常工作狀態(tài)。 其中在Configuration階段會(huì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的速率和位寬協(xié)商，而在Recovery階段則會(huì)進(jìn)行更  加復(fù)雜的發(fā)送端預(yù)加重和接收端均衡的調(diào)整和協(xié)商。PCIE 5.0，速率翻倍vs性能優(yōu)化；湖北P(pán)CI-E測(cè)試代理商

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設(shè)計(jì)都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測(cè)試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測(cè)試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測(cè)試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測(cè)試夾具、1塊可 變ISI的測(cè)試夾具。在測(cè)試中，CBB4用于插卡的TX測(cè)試以及主板RX測(cè)試中的校準(zhǔn)； CLB4用于主板TX的測(cè)試以及插卡RX測(cè)試中的校準(zhǔn)；可變ISI的測(cè)試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無(wú)論是哪種測(cè)試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測(cè)試夾具的原因是在PCIe4.0 的測(cè)試規(guī)范中，要求通過(guò)硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實(shí)際主板或插卡上 PCB走線(xiàn)、過(guò)孔以及連接器造成的損耗。湖北P(pán)CI-E測(cè)試代理商PCI-e 3.0簡(jiǎn)介及信號(hào)和協(xié)議測(cè)試方法；

綜上所述，PCIe4.0的信號(hào)測(cè)試需要25GHz帶寬的示波器，根據(jù)被測(cè)件的不同可能會(huì) 同時(shí)用到2個(gè)或4個(gè)測(cè)試通道。對(duì)于芯片的測(cè)試需要用戶(hù)自己設(shè)計(jì)測(cè)試板；對(duì)于主板或者  插卡的測(cè)試來(lái)說(shuō)，測(cè)試夾具的Trace選擇、測(cè)試碼型的切換都比前代總線(xiàn)變得更加復(fù)雜了；

在數(shù)據(jù)分析時(shí)除了要嵌入芯片封裝的線(xiàn)路模型以外，還要把均衡器對(duì)信號(hào)的改善也考慮進(jìn) 去。PCIe協(xié)會(huì)提供的SigTest軟件和示波器廠商提供的自動(dòng)測(cè)試軟件都可以為PCle4. 0的測(cè)試提供很好的幫助。

·項(xiàng)目2.6Add-inCardLaneMarginingat16GT/s:驗(yàn)證插卡能通過(guò)LaneMargining功能反映接收到的信號(hào)質(zhì)量，針對(duì)16Gbps速率。·項(xiàng)目2.7SystemBoardTransmitterSignalQuality:驗(yàn)證主板發(fā)送信號(hào)質(zhì)量，針對(duì)2.5Gbps、5Gbps、8Gbps、16Gbps速率。·項(xiàng)目2.8SystemBoardTransmitterPresetTest:驗(yàn)證插卡發(fā)送信號(hào)的Preset值是否正確，針對(duì)8Gbps和16Gbps速率。·項(xiàng)目2.9SystemBoardTransmitterLinkEqualizationResponseTest:驗(yàn)證插卡對(duì)于鏈路協(xié)商的響應(yīng)時(shí)間，針對(duì)8Gbps和16Gbps速率。·項(xiàng)目2.10SystemLaneMarginingat16GT/s:驗(yàn)證主板能通過(guò)LaneMargining功能反映接收到的信號(hào)質(zhì)量，針對(duì)16Gbps速率。·項(xiàng)目2.11AddinCardReceiverLinkEqualizationTest:驗(yàn)證插卡在壓力信號(hào)下的接收機(jī)性能及誤碼率，要求可以和對(duì)端進(jìn)行鏈路協(xié)商并相應(yīng)調(diào)整對(duì)端的預(yù)加重，針對(duì)8Gbps和16Gbps速率。被測(cè)件發(fā)不出標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E的一致性測(cè)試碼型，為什么？

當(dāng)被測(cè)件進(jìn)入環(huán)回模式并且誤碼儀發(fā)出壓力眼圖的信號(hào)后，被測(cè)件應(yīng)該會(huì)把其從RX 端收到的數(shù)據(jù)再通過(guò)TX端發(fā)送出去送回誤碼儀，誤碼儀通過(guò)比較誤碼來(lái)判斷數(shù)據(jù)是否被  正確接收，測(cè)試通過(guò)的標(biāo)準(zhǔn)是要求誤碼率小于1.0×10- 12。 19是用高性能誤碼儀進(jìn)  行PCIe4.0的插卡接收的實(shí)際環(huán)境。在這款誤碼儀中內(nèi)置了時(shí)鐘恢復(fù)電路、預(yù)加重模塊、 參考時(shí)鐘倍頻、信號(hào)均衡電路等，非常適合速率高、要求復(fù)雜的場(chǎng)合。在接收端容限測(cè)試中， 可調(diào)ISI板上Trace線(xiàn)的選擇也非常重要。如果選擇的鏈路不合適，可能需要非常長(zhǎng)的時(shí)  間進(jìn)行Stress Eye的計(jì)算和鏈路調(diào)整，甚至無(wú)法完成校準(zhǔn)和測(cè)試。 一般建議事先用VNA  標(biāo)定和選擇好鏈路，這樣校準(zhǔn)過(guò)程會(huì)快很多，測(cè)試結(jié)果也會(huì)更加準(zhǔn)確。所以，在PCIe4.0的  測(cè)試中，無(wú)論是發(fā)送端測(cè)試還是接收端測(cè)試，都比較好有矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配合進(jìn)行ISI通道  選擇。我的被測(cè)件不是標(biāo)準(zhǔn)的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進(jìn)行PCI-E的測(cè)試？湖北P(pán)CI-E測(cè)試代理商

PCI-E 3.0測(cè)試接收端的變化；湖北P(pán)CI-E測(cè)試代理商

相應(yīng)地，在CC模式下參考時(shí)鐘的 抖動(dòng)測(cè)試中，也會(huì)要求測(cè)試軟件能夠很好地模擬發(fā)送端和接收端抖動(dòng)傳遞函數(shù)的影響。而 在IR模式下，主板和插卡可以采用不同的參考時(shí)鐘，可以為一些特殊的不太方便進(jìn)行參考 時(shí)鐘傳遞的應(yīng)用場(chǎng)景(比如通過(guò)Cable連接時(shí))提供便利，但由于收發(fā)端參考時(shí)鐘不同源，所 以對(duì)于收發(fā)端的設(shè)計(jì)難度要大一些(比如Buffer深度以及時(shí)鐘頻差調(diào)整機(jī)制)。IR模式下 用戶(hù)可以根據(jù)需要在參考時(shí)鐘以及PLL的抖動(dòng)之間做一些折中和平衡，保證*終的發(fā)射機(jī) 抖動(dòng)指標(biāo)即可。圖4.9是PCIe4.0規(guī)范參考時(shí)鐘時(shí)的時(shí)鐘架構(gòu)，以及不同速率下對(duì)于 芯片Refclk抖動(dòng)的要求。湖北P(pán)CI-E測(cè)試代理商