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電氣性能測試DDR3測試多端口矩陣測試

來源: 發(fā)布時間:2024-07-27

單擊NetCouplingSummary,出現(xiàn)耦合總結(jié)表格,包括網(wǎng)絡序號、網(wǎng)絡名稱、比較大干擾源網(wǎng)絡、比較大耦合系數(shù)、比較大耦合系數(shù)所占走線長度百分比、耦合系數(shù)大于0.05的走線 長度百分比、耦合系數(shù)為0.01?0.05的走線長度百分比、總耦合參考值。

單擊Impedance Plot (Collapsed),查看所有網(wǎng)絡的走線阻抗彩圖。注意,在彩圖 上方有一排工具欄,通過下拉按鈕可以選擇查看不同的網(wǎng)絡組,選擇不同的接收端器件,選 擇查看單端線還是差分線。雙擊Plot±的任何線段,對應的走線會以之前定義的顏色(白色) 在Layout窗口中高亮顯示。 DDR3一致性測試期間是否會對數(shù)據(jù)完整性產(chǎn)生影響?電氣性能測試DDR3測試多端口矩陣測試

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DDR(Double Data Rate)是一種常見的動態(tài)隨機存取存儲器(DRAM)標準。以下是對DDR規(guī)范的一些解讀:DDR速度等級:DDR規(guī)范中定義了不同的速度等級,如DDR-200、DDR-400、DDR2-800、DDR3-1600等。這些速度等級表示內(nèi)存模塊的速度和帶寬,通常以頻率來表示(例如DDR2-800表示時鐘頻率為800 MHz)。數(shù)據(jù)傳輸方式:DDR采用雙倍數(shù)據(jù)傳輸率,即在每個時鐘周期內(nèi)進行兩次數(shù)據(jù)傳輸,相比于單倍數(shù)據(jù)傳輸率(SDR),DDR具有更高的帶寬。時序要求:DDR規(guī)范定義了內(nèi)存模塊的各種時序要求,包括初始時序、數(shù)據(jù)傳輸時序、刷新時序等。這些時序要求確保內(nèi)存模塊能夠按照規(guī)范工作,并實現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸和操作。四川DDR3測試銷售廠DDR3一致性測試是否適用于工作站和游戲電腦?

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創(chuàng)建工程啟動SystemSI工具,單擊左側(cè)Workflow下的LoadaNew/ExistingWorkspace菜單項,在彈出的WorkspaceFile對話框中選擇Createanewworkspace,單擊OK按鈕。在彈出的SelectModule對話框中選擇ParallelBusAnalysis模塊,單擊OK按鈕。選擇合適的License后彈出NewWorkspace對話框在NewWorkspace對話框中選擇Createbytemplate單選框,選擇個模板addr_bus_sparam_4mem,設置好新建Workspace的路徑和名字,單擊0K按鈕。如圖4-36所示,左側(cè)是Workflow,右側(cè)是主工作區(qū)。

分配舊IS模型并定義總線左側(cè)Workflow提示第2步為AssignIBISModels,先給內(nèi)存控制器和SDRAM芯片分配實際的IBIS模型。雙擊Controller模塊,在工作區(qū)下方彈出Property界面,左側(cè)為Block之間的連接信息,右側(cè)是模型設置。單擊右下角的LoadIBIS...按鈕,彈出LoadIBIS對話框。

DDRhDDRl釆用SSTL_2接口,1/0 口工作電壓為2.5V;時鐘信號頻率為100?200MHz; 數(shù)據(jù)信號速率為200?400 Mbps,通過單端選通信號雙邊沿釆樣;地址/命令/控制信號速率為 100?200Mbps,通過時鐘信號上升沿采樣;信號走線都使用樹形拓撲,沒有ODT功能。

DDR2: DDR2釆用SSTL_18接口,I/O 口工作電壓為1.8V;時鐘信號頻率為200? 400MHz;數(shù)據(jù)信號速率為400?800Mbps,在低速率下可選擇使用單端選通信號,但在高速 率時需使用差分選通信號以保證釆樣的準確性;地址/命令/控制信號在每個時鐘上升沿釆樣的 情況下(1T模式)速率為200?400Mbps,在每個間隔時鐘上升沿釆樣的情況下(2T模式) 速率減半;信號走線也都使用樹形拓撲,數(shù)據(jù)和選通信號有ODT功能。 DDR3一致性測試是否會導致操作系統(tǒng)或應用程序崩潰?

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有其特殊含義的,也是DDR體系結(jié)構(gòu)的具體體現(xiàn)。而遺憾的是,在筆者接觸過的很多高速電路設計人員中,很多人還不能夠說清楚這兩個圖的含義。在數(shù)據(jù)寫入(Write)時序圖中,所有信號都是DDR控制器輸出的,而DQS和DQ信號相差90°相位,因此DDR芯片才能夠在DQS信號的控制下,對DQ和DM信號進行雙沿采樣:而在數(shù)據(jù)讀出(Read)時序圖中,所有信號是DDR芯片輸出的,并且DQ和DQS信號是同步的,都是和時鐘沿對齊的!這時候為了要實現(xiàn)對DQ信號的雙沿采樣,DDR控制器就需要自己去調(diào)整DQS和DQ信號之間的相位延時!!!這也就是DDR系統(tǒng)中比較難以實現(xiàn)的地方。DDR規(guī)范這樣做的原因很簡單,是要把邏輯設計的復雜性留在控制器一端,從而使得外設(DDR存儲心片)的設計變得簡單而廉價。因此,對于DDR系統(tǒng)設計而言,信號完整性仿真和分析的大部分工作,實質(zhì)上就是要保證這兩個時序圖的正確性。什么是DDR3內(nèi)存的一致性問題?甘肅智能化多端口矩陣測試DDR3測試

是否可以在已通過一致性測試的DDR3內(nèi)存模塊之間混搭?電氣性能測試DDR3測試多端口矩陣測試

· 工業(yè)規(guī)范標準,Specification:如果所設計的功能模塊要實現(xiàn)某種工業(yè)標準接口或者協(xié)議,那一定要找到相關(guān)的工業(yè)規(guī)范標準,讀懂規(guī)范之后,才能開始設計。

因此,為實現(xiàn)本設計實例中的 DDR 模塊,需要的技術(shù)資料和文檔。

由于我們要設計 DDR 存儲模塊,那么在所有的資料當中,應該較早了解 DDR 規(guī)范。通過對 DDR 規(guī)范文件「JEDEC79R」的閱讀,我們了解到,設計一個 DDR 接口,需要滿足規(guī)范中規(guī)定的 DC,AC 特性及信號時序特征。下面我們從設計規(guī)范要求和器件本身特性兩個方面來解讀,如何在設計中滿足設計要求。 電氣性能測試DDR3測試多端口矩陣測試

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