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PCI-E測試HDMI測試

來源: 發布時間:2023-06-29

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質量的測試,都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下,要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設置狀態。具體方法是:在被測件插入測試夾具并且上電以后,可以通過測試夾具上的切換開關控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關時,正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps走pcie通道的M.2接口必定是支持NVME協議的嗎?PCI-E測試HDMI測試

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P5 、8Gbps   P6 、8Gbps   P7 、8Gbps   P8 、8GbpsP9 、8Gbps   P10 、16GbpsP0 、16GbpsPl 、16Gbps   P2 、16Gbps   P3 、16Gbps   P4 、16Gbps   P5 、16Gbps   P6 、16GbpsP7 、16Gbps   P8 、16Gbps   P9、 16Gbps P10的一致性測試碼型。需要注意的一點是,由于在8Gbps和16Gbps下都有11種  Preset值,測試過程中應明確當前測試的是哪一個Preset值(比如常用的有Preset7、 Preset8 、Presetl 、Preset0等) 。由于手動通過夾具的Toggle按鍵進行切換操作非常煩瑣,特別是一些Preset相關的測試項目中需要頻繁切換,為了提高效率,也可以通過夾具上的 SMP跳線把Toggle信號設置成使用外部信號,這樣就可以通過函數發生器或者有些示波 器自身輸出的Toggle信號來自動控制被測件切換。PCI-E測試HDMI測試網絡分析儀測試PCIe gen4和gen5,sdd21怎么去除夾具的值?

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CTLE均衡器可以比較好地補償傳輸通道的線性損耗,但是對于一些非線性因素(比如 由于阻抗不匹配造成的信號反射)的補償還需要借助于DFE的均衡器,而且隨著信號速率的提升,接收端的眼圖裕量越來越小,采用的DFE技術也相應要更加復雜。在PCle3.0的 規范中,針對8Gbps的信號,定義了1階的DFE配合CTLE完成信號的均衡;而在PCle4.0 的規范中,針對16Gbps的信號,定義了更復雜的2階DFE配合CTLE進行信號的均衡。 圖 4 .5 分別是規范中針對8Gbps和16Gbps信號接收端定義的DFE均衡器(參考資料: PCI   Express@   Base   Specification   4.0)。

校準完成后,在進行正式測試前,很重要的一點就是要能夠設置被測件進入環回模式。 雖然調試時也可能會借助芯片廠商提供的工具設置環回,但標準的測試方法還是要基于鏈  路協商和通信進行被測件環回模式的設置。傳統的誤碼儀不具有對于PCle協議理解的功  能,只能盲發訓練序列,這樣的缺點是由于沒有經過正常的鏈路協商,可能會無法把被測件  設置成正確的狀態。現在一些新型的誤碼儀平臺已經集成了PCIe的鏈路協商功能,能夠  真正和被測件進行訓練序列的溝通,除了可以有效地把被測件設置成正確的環回狀態,還可  以和對端被測設備進行預加重和均衡的鏈路溝通。pcie接口定義及知識解析;

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PCIe4.0的測試項目PCIe相關設備的測試項目主要參考PCI-SIG發布的ComplianceTestGuide(一致性測試指南)。在PCIe3.0的測試指南中,規定需要進行的測試項目及其目的如下(參考資料:PCIe3.0ComplianceTestGuide):·ElectricalTesting(電氣特性測試):用于檢查主板以及插卡發射機和接收機的電氣性能。·ConfigurationTesting(配置測試):用于檢查PCIe設備的配置空間。·LinkProtocolTesting(鏈路協議測試):用于檢查設備的鏈路層協議行為。PCI-E4.0的發射機質量測試?PCI-E測試HDMI測試

PCI-E轉USB或UFS接口的控制芯片和測試板的制作方法;PCI-E測試HDMI測試

其中,電氣(Electrical) 、協議(Protocol) 、配置(Configuration)等行為定義了芯片的基本 行為,這些要求合在一起稱為Base規范,用于指導芯片設計;基于Base規范,PCI-SIG還會 再定義對于板卡設計的要求,比如板卡的機械尺寸、電氣性能要求,這些要求合在一起稱為 CEM(Card Electromechanical)規范,用以指導服務器、計算機和插卡等系統設計人員的開 發。除了針對金手指連接類型的板卡,針對一些新型的連接方式,如M.2、U.2等,也有一 些類似的CEM規范發布。PCI-E測試HDMI測試

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