PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預算在實際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調整鏈路損耗的ISI板。主板的發送信號質量測試需要用到對應位寬的CLB板；插卡的發送信號質量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進行全鏈路的校準，整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。高速串行技術(二)之(PCIe中的基本概念)；北京PCI-E測試聯系方式

需要注意的是，每一代CBB和CLB的設計都不太一樣，特別是CBB的 變化比較大，所以測試中需要加以注意。圖4.10是支持PCIe4.0測試的夾具套件，主要包括1塊CBB4測試夾具、2塊分別支持x1/x16位寬和x4/x8位寬的CLB4測試夾具、1塊可 變ISI的測試夾具。在測試中，CBB4用于插卡的TX測試以及主板RX測試中的校準； CLB4用于主板TX的測試以及插卡RX測試中的校準；可變ISI的測試夾具是PCIe4 .0中 新增加的，無論是哪種測試，ISI板都是需要的。引入可變ISI測試夾具的原因是在PCIe4.0 的測試規范中，要求通過硬件通道的方式插入傳輸通道的影響，用于模擬實際主板或插卡上 PCB走線、過孔以及連接器造成的損耗。陜西PCI-E測試配件3090Ti 始發支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？

要精確產生PCle要求的壓力眼圖需要調整很多參數，比如輸出信號的幅度、預加重、 差模噪聲、隨機抖動、周期抖動等，以滿足眼高、眼寬和抖動的要求。而且各個調整參數之間 也會相互制約，比如調整信號的幅度時除了會影響眼高也會影響到眼寬，因此各個參數的調 整需要反復進行以得到 一個比較好化的組合。校準中會調用PCI-SIG的SigTest軟件對信號 進行通道模型嵌入和均衡，并計算的眼高和眼寬。如果沒有達到要求，會在誤碼儀中進 一步調整注入的隨機抖動和差模噪聲的大小，直到眼高和眼寬達到參數要求。

測試類型8Gbps速率16Gbps速率插卡RX測試眼寬：41.25ps+0/—2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：46mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV主板RX測試眼寬：45ps+0/-2ps眼寬：18.75ps+0.5/-0.5ps眼高：50mV+0/-5mV眼高：15mV+1.5/-1.5mV 校準時，信號的參數分析和調整需要反復進行，人工操作非常耗時耗力。為了解決這個 問題，接收端容限測試時也會使用自動測試軟件，這個軟件可以提供設置和連接向導、控制 誤碼儀和示波器完成自動校準、發出訓練碼型把被測件設置成環回狀態，并自動進行環回數 據的誤碼率統計。圖4 . 18是典型自動校準和接收容限測試軟件的界面，以及相應的測試pcie接口定義及知識解析；

PCIe 的物理層(Physical Layer)和數據鏈路層(Data Link Layer)根據高速串行通信的  特點進行了重新設計，上層的事務層(Transaction)和總線拓撲都與早期的PCI類似，典型  的設備有根設備(Root Complex) 、終端設備(Endpoint), 以及可選的交換設備(Switch) 。早   期的PCle總線是CPU通過北橋芯片或者南橋芯片擴展出來的，根設備在北橋芯片內部， 目前普遍和橋片一起集成在CPU內部，成為CPU重要的外部擴展總線。PCIe  總線協議層的結構以及相關規范涉及的主要內容。PCI-E測試和協議調試；安徽PCI-E測試維修電話

為什么PCI-E3.0開始重視接收端的容限測試？北京PCI-E測試聯系方式

首先來看一下惡劣信號的定義，不是隨便一個信號就可以，且惡劣程度要有精確定義才 能保證測量的重復性。通常把用于接收端容限測試的這個惡劣信號叫作Stress Eye,即壓 力眼圖，實際上是借鑒了光通信的叫法。這個信號是用高性能的誤碼儀先產生一個純凈的 帶特定預加重的信號，然后在這個信號上疊加精確控制的隨機抖動(RJ)、周期抖動(SJ)、差 模和共模噪聲以及碼間干擾(ISI)。為了確定每個成分的大小都符合規范的要求，測試之前需要先用示波器對誤碼儀輸出的信號進行校準。其中，ISI抖動是由PCIe協會提供的測試 夾具產生，其夾具上會模擬典型的主板或者插卡的PCB走線對信號的影響。在PCIe3.0的 CBB夾具上，增加了專門的Riser板以模擬服務器等應用場合的走線對信號的影響；而在 PCIe4.0和PCIe5.0的夾具上，更是增加了專門的可變ISI的測試板用于模擬和調整ISI的 影響。北京PCI-E測試聯系方式

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